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产品

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探针台

CM300xi - Fully Automatic Probe System

无论您是需要用于探测 150mm 晶圆的成本效益型手动式探针台,或是用于探测 200mm 或 300mm 晶圆的半自动热探针台,Cascade Microtech 均提供了用于对电路板和模块、MEMS、生物结构和光电器件进行晶圆上探测的完整高性能解决方案产品线。所提供的探针台备有附件,比如:热控制系统、特殊电缆、校准软件和业界领先的探针,它们将有助于您对被测器件进行定位、校准和特性描述。Cascade Microtech 在业界率先实现了 1fA 测量,并提供了能够以极低的泄漏和低接触电阻在高达 220GHz 的频率条件下进行探测的系统。 [查看更多]

可靠性测试产品

1164 Reliability Test System

Model 1164 可靠性测试系统提供了一种测试平台,其可为所有的半导体可靠性应用提供真正的并行测试。该测试系统由专用的应用模块组成,每个模块与单独的“笔记本型烤箱”(Notebook Oven) 相配对。应用模块彼此之间完全自主操作。Model 1164 可为下列应用提供测试: [查看更多]

工程用探针

Infinity Probe

Cascade Microtech 提供了 50 多款不同的用于晶圆、封装和板级特性描述的分析型探针产品。我们提供了射频(RF)微波探针(Infinity 和 Air Coplanar 系列)、用于 DC 测试的 DCP 以及用于失效分析的 PE5。我们的探针支持高达 220GHz 频率条件下的众多探测应用。 [查看更多]

量产用探针

Pyramid Probes

适合 RF、SiP/SoC 和参数生产应用的超群电气性能和机械性能 [查看更多]