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プローブ

プローブ

オン・ウェーハ、パッケージ、基板レベルでの様々な測定用途に合わせて50種類以上のライン・アップを提供しております。高周波、DC、不良解析、差動、ロードプル、ノイズ測定等のアプリケーション用途のプローブ・ヘッドをご紹介いたします。

高周波プローブ

Infinity Probe

DC~325GHzまで対応した同軸および導波管高周波プローブを多数ご紹介します。RF CMOSの安定したプロービングに最適なインフィニティ・プローブ、2AまでのDCバイアス印加が可能なインフィニティ・プローブHCモデル、平衡/差動測定用プローブ、先端に柔軟性があるエア・コプレナ・プローブなど様々なラインアップをご用意しております。 [詳細]

RFIC/ファンクションテスト用プローブ

InfinityQuad Probe

高速デバイス電源供給用バイアス・プローブ、RF/DC/パワーの混在するプロービングに対応したマルチコンタクト・プローブ(最大25ピン、110GHz)、光通信デバイス用プローブなど、様々なラインアップをご紹介します。 [詳細]

|Z|プローブ・パワー

|Z| Probe® Power

|Z|プローブパワーは、更なるハイパワー、2.4 GHzで66 W、5 GHzで43 Wを提供します。高周波パワーデバイスの標準的な特性評価に必要な40 GHzまでのロード・プル測定セットアップにおいて、最も精度の高い測定結果を提供すべく、優れたコンタクトの再現性と極めて低いコンタクト抵抗を実現しました。 [詳細]

DCパワーデバイス用プローブ

Tesla HCP Probe

低いコンタクト抵抗で、最大300 A、10 kVまでのオン・ウェーハのデバイス特性評価測定用のプローブです。高温でも再現性の高い測定を可能にします。 [詳細]

ボードテスト、基板測定用プローブ

FPC Probe

ボードテスト・基板測定用プローブは、高速、高密度ICの特性評価や不良解析の測定を可能にします。 [詳細]

DCパラメトリック・プローブ

DCP HTR Probe

オン・ウェーハのデバイス特性評価測定、信頼性テストにおいて、高温でも安定した高性能な測定が可能です。 [詳細]

Photonics

LWP

LWPシリーズ光プローブは、オンウェハおよびハイブリッド・フォトニクスデバイスの光学測定を可能にします。 [詳細]

カスタム製品

This special purpose probe is designed to provide wide bandwidth RF connections and simultaneous resonant free power bypass connections for the special needs of high-speed mixed mode IC ’s for optical networks.

カスケード・マイクロテック社は、お客様のアプリケーションに合わせてカスタム設計が可能なプローブも提供しております。特殊な測定用途や条件に使用可能なカスタム設計のプローブをご希望の場合は、お気軽にお問い合わせください。 [詳細]

キャリブレーション

Impedance Standard Substrate

WinCal XE VNA校正用ソフトウェアは、業界随一の豊富な校正手法により正確かつ再現性の高い測定を実現しました。 [詳細]

WinCal XEソフトウェア

WinCal XE高周波校正ソフトウェアは、業界随一の豊富な校正手法により正確かつ再現性の高い測定ができます。便利なWizard方式により測定時間短縮を図ることができます。 [詳細]