お問合せ ::  045-338-1286 :: 

CM300xi

CM300

高度なシールド・ソリューションにより、CM300xiセミオート・プローブ・ステーションは、湿度フリー、遮光、EMIシールドテスト環境を提供し、正確かつ容易に過温度測定と低リーク/ノイズ測定を可能にします。その機械的精度と安定性はファインピッチ、小パッドとマイクロバンプへの再現性のあるプロービングを実現しています。 また、CM300xiは、カセット中のウェハテストを自動化するため、ウェハ・ハンドラを追加するフィールドアップグレードが可能なプローバです。

ウェハ・ハンドリングユニット付きのCM300xiフルオート・システムは、最大50枚の200/300㎜ウェハ、ならびに単一のダイ、分割された小さなウェハまで扱え、一方ではカセットホットスワップ機能も備えています。 CM300xiのモジュール設計は、デュアル・プローバシステムへの容易なアップグレードを可能にします。フルオート・システムまたはクラスタ・プローブシステムのどちらでも、CM300xiは、最小のセトリング時間との完全な熱範囲にわたって高精度、低ノイズ/リーク測定を実現しています。 VeloxPro™テスト自動化ソフトウェアは、SEMI E95に準拠しており、使いやすいインターフェースでウェハ・ハンドリング、温度コントロール、Z-プロファイリングおよび自動ステップ送りを統合しています。

CM300xi Probe System
CM300xi Probe System

CM300xi Semi-Automated Probe System

高度なシールド・ソリューションにより、CM300xiセミオート・プローブ・ステーションは、湿度フリー、遮光、EMIシールドテスト環境を提供し、正確かつ容易に過温度測定と低リーク/ノイズ測定を可能にします。その機械的精度と安定性はファインピッチ、小パッドとマイクロバンプへの再現性のあるプロービングを実現しています。 また、CM300ixは、カセット中のウェハテストを自動化するため、ウェハ・ハンドラを追加するフィールドアップグレードが可能なプローバです。

CM300xi Product Highlight (Semi-automated)
CM300xi Data Sheet
CM300xi Facility Planning Guide
CM300 Facility Planning Guide (legacy)

Related Content

VeloxPro Product Highlight
Thermal Systems Facility Planning Guide (20°C/30°C – 300°C)
Thermal System Facility Planning Guide (-60°C – 300°C)

Contact Intelligence™ Technical Brief

CM300xi Semi-Automated Probe System
CM300xi Semi-Automated Probe System

CM300xi Fully-Automated Probe System

ウェハ・ハンドリングユニット付きのCM300xiフルオート・システムは、最大50枚の200/300㎜ウェハ、ならびに単一のダイ、分割された小さなウェハまで扱え、カセットホットスワップ機能も備えています。 モジュール設計により、デュアル・プローバシステムへのアップグレードが容易です。フルオートまたはクラスタ・システムのどちらでも、最小のセトリング時間と完全な熱範囲に渡って高精度、低ノイズ/リーク測定を実現します。 SEMI E95準拠のVeloxPro™ソフトウェアは、使いやすいインターフェースでウェハ・ハンドリング、温度コントロール、Z-プロファイリングおよび自動ステップ送りを統合しています。

CM300xi Product Highlight (Fully-automated)
CM300xi Data Sheet
CM300xi Facility Planning Guide
CM300 Facility Planning Guide (legacy)

Related Content

VeloxPro Product Highlight
Thermal Systems Facility Planning Guide (20°C/30°C – 300°C)
Thermal System Facility Planning Guide (-60°C – 300°C)

Contact Intelligence™ Technical Brief

CM300 Fully-Automated Probe System
CM300xi Fully-Automated Probe System