86-21-3330-3188 ::  86-21-3330-3288  ::  日本語

量产用探针

量产用探针

相关文件

    适合 RF、SiP/SoC 和参数生产应用的超群电气性能和机械性能

    Pyramid 探针卡技术

    Pyramid Probe Card: Probe Tips

    Cascade Microtech 开发出了拥有自主专利权的洁净室工艺,用于在柔性基片上进行探针结构的淀积、光刻图形化、蚀刻和涂覆,这些工艺与制造半导体芯片所采用的工艺很相似。 [查看更多]

    Pyramid-MW探针卡

    Pyramid-MW

    Cascade Microtech 的 Pyramid-MW 探针用于实现 57GHz 至 81GHz RFIC 的坚固、低成本和长寿命生产测试,是目前世界上仅有的一款毫米波(mmW)RF 量产用探针卡,可确保可靠和可重复的测量结果,这对于实现高良率测试是至关重要的。Cascade Microtech 的 Pyramid-MW 探针卡提供了一种采用光刻法确定的超耐用型细间距针尖结构(用于探测较小的焊盘),并提供了一致的低接触电阻,而且凭借快速设置、极少的维护和备有证明文件的洁净规范降低了您的生产测试成本。 [查看更多]

    RF P-Series Pyramid探针卡

    Pyramid RF P-Series Probe Card

    RF P-Series Pyramid 探针卡为无线 RF 和微波器件生产测试提供了当今最先进的信号完整性。微带传输线保持阻抗控制一直到焊盘。获专利授权的接地和电源平面以及旁路电容器将无谐振电源直接提供至 IC。此外,RF P-Series 探针造成的焊盘损伤极少,并提供了极长的寿命,拥有成本较之其他的 RF 量产用探针卡产品有了大幅度的下降。与其他的探针技术相比,Cascade Microtech 的创新型 Pyramid Plus 制造工艺确保了拥有成本的实质性下降,并在单个解决方案中提供了上佳的 RF 信号完整性。 [查看更多]

    P30 RF Pyramid 探针卡

    Pyramid P30 Probe Card

    P30 RF Pyramid 探针卡在开发时运用了已面市的 Pyramid 探针的部分功能以及简化的设计和制作工艺,是同轴型 RF 探针卡的一种性能上佳且具成本效益的替代方案,适合于 RF 滤波器和开关的大批量测试。P30 的出众 RF 性能、隔离、低接地电感和接触电阻与旗舰产品 RF P-Series Pyramid 探针相同。P30 专注于应用,专门针对外围焊盘、50Ω 阻抗传输线和 DC 控制线进行了优化。P30 探针卡专为确保您成功进行蜂窝电话、基站和无线设备用 RF 滤波器和开关的量产测试而设计。 [查看更多]

    SiP/SoC P-Series Pyramid 探针卡

    Pyramid SiP/SoC Probe Card

    SiP/SoC P-Series Pyramid 探针卡通过强化生产能力、减少维护和提高良率(凭借很大的多 DUT 探针表面、永久性的探针对准、上佳的电性能和长寿命来实现)以降低您的拥有成本。SiP/SoC P-Series 专为焊盘和倒装芯片焊凸而设计,在晶片分拣时实现了大规模 IC 的全速测试。低电感电源、接地触点和受控阻抗信号线提供了优于大多数 IC 封装的电性能。全速晶片分拣降低了废品率并实现了 KGD 发运。 [查看更多]

    PDC50 DC Parametric Pyramid探针卡

    Pyramid Probe Card Core

    PDC50 DC parametric Pyramid 探针卡是现有解决方案的高性能、低成本替代方案。PDC50 与 Agilent 4070/4080 系列和 Keithly S600 系列相兼容,专为实现 65nm 和 45nm 参数测试结构的准确监视而设计。相比于传统的探针技术,Cascade Microtech 的创新型 Pyramid Plus 制造工艺确保了拥有成本的实质性下降,同时提供了上佳的信号完整性和较快的稳定时间。PDC50 非常适合于诸如最终过程开发、仅 DC 参数量产(生产线中和生产线后端)以及晶圆验收测试(WAT)等应用。 [查看更多]

    PRF50 RF/DC Parametric Pyramid 探针卡

    RF/DC Parametric Pyramid Probe Card (A)

    PRF50 RF/DC parametric Pyramid 探针卡是业界现行解决方案的高性能、低成本替代方案。PRF50 专为实现 65nm 和 45nm 参数测试结构的准确监视而设计,与 Agilent 4070/4080 系列和 Keithley S600 系列相兼容。Cascade Microtech 的创新型 Pyramid Plus 制造工艺确保了拥有成本的实质性下降,同时提供了上佳的 RF 信号完整性和较快的 DC 稳定时间,所有这些均利用单个解决方案得以实现。PRF50 探针卡将确保您在诸如最终过程开发、仅 DC 和 RF/DC 参数量产(生产线中和生产线后端)以及晶圆验收测试(WAT)等应用中获得成功。 [查看更多]

    Pyramid Accel 测试程序调试夹具

    Pyramid Accel Test Program Debug Fixture

    Pyramid Accel 测试程序调试夹具用于解决当今的 SoC 和 RF 器件所带来的日益复杂的测试难题。它提供了一种独特的能力,可缩减开发准确、可预测和可靠生产测试程序所需的时间和成本,并使总体产品面市时间缩短了 60% 之多。Pyramid Accel 使得客户无需对实际晶圆进行探测即可调试其测试程序,这可以简单地通过采用包含封装器件的 Pyramid Accel 来替换一个单 DUT 或多 DUT Pyramid 探针晶圆接口芯得以实现。通过免除在测试程序调试期间增设一个晶圆探针器的需要,Pyramid Accel 降低了您的测试成本,同时精简了整个开发过程。 [查看更多]