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工程用探针

工程用探针

Cascade Microtech 提供了 50 多款不同的用于晶圆、封装和板级特性描述的分析型探针产品。我们提供了射频(RF)微波探针(Infinity 和 Air Coplanar 系列)、用于 DC 测试的 DCP 以及用于失效分析的 PE5。我们的探针支持高达 220GHz 频率条件下的众多探测应用。

 

RF Microwave Probes

Infinity Probe

Cascade Microtech 于 1983 年制造出了世界上第一个微波探针,该探针在业界率先实现了晶圆上 18GHz 测量,并加快了 GaAs 芯片的商用化进程。我们的射频(RF)探针产品线专为应对高频探测难题而设计,并在铝制焊盘上确保了低且稳定的接触电阻。 [查看更多]

RFIC & Functional Test Probes

InfinityQuad Probe

Cascade Microtech 的耐用型高性能多触点探针简化了 RFIC 工程测试。 [查看更多]

DC Parametric Probes

DCP HTR Probe

Cascade Microtech 的 DC 探针实现了针对先进晶圆上工艺、器件特性描述和可靠性测试的高准确度测量。我们的探针提供了出色的过热防护和隔离功能,旨在消除非同轴和标准同轴探针的性能局限性。 [查看更多]

功率器件探针

Tesla HCP Probe

Cascade Microtech 的功率器件探针提供了一种面向高达 60A 电流和 3000V 电压条件下的过热、低接触电阻测量的完整晶圆上解决方案。 [查看更多]

|Z| Probe® Power

|Z| Probe® Power

To provide highly accurate characterization of RF power devices at wafer level, the |Z| Probe® Power, based off proven |Z| Probe Technology, handles high powers at high frequencies (up to 40 GHz).

RF/Microwave Signals: 1
Low loss and high power
Footprint: GSG [查看更多]

Signal Integrity / MCM Probes

FPC Probe

Cascade Microtech 提供了精准、耐用的细间距探针,这种探针非常适合于在 IC 封装和电路板上进行信号完整性探测。 [查看更多]

Impedance Matching Probes

Impedance Probe

Cascade Microtech 的阻抗匹配探针(Impedance Matching Probes)运用了经过验证的气动共面探针技术,可提供电抗性版本和电阻性版本。提供了 ACP 或 FPC 机体结构(body style)选项。电抗性匹配探针提供了至诸如功率器件低阻抗输出的低损耗变换。电阻性匹配探针常用于单独地将插接线终接至一个低动态电阻激光二极管,以实现最平坦的调制频率响应。 [查看更多]

Cryogenic ACP Probe

Probes - ACP Cryogenic

专为在低温温度下提供上佳的机械特性并保持可靠的 RF 测量性能而设计。 [查看更多]

校准工具

Impedance Standard Substrate

最齐全的校准软件和附件 (采用 WinCal XE 软件) 选择 [查看更多]