PDC50 DC parametric Pyramid 探针卡是现有解决方案的高性能、低成本替代方案。PDC50 与 Agilent 4070/4080 系列和 Keithly S600 系列相兼容，专为实现 65nm 和 45nm 参数测试结构的准确监视而设计。相比于传统的探针技术，Cascade Microtech 的创新型 Pyramid Plus 制造工艺确保了拥有成本的实质性下降，同时提供了上佳的信号完整性和较快的稳定时间。PDC50 非常适合于诸如最终过程开发、仅 DC 参数量产（生产线中和生产线后端）以及晶圆验收测试（WAT）等应用。

特点

• 至探针针尖的受保护走线具有极低的漏电流
• 卓越的测量精确度以及低漏电流（1fA/V）、快速稳定时间和减低的串扰
• 一个探针卡可用于铜焊盘和铝焊盘探测
• 低至 30 x 30μm 的小焊盘探测
• 利用 Pyramid Plus 制造技术实现的低拥有成本、上佳的信号完整性以及快速稳定时间